Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (2017)
DE HC NWISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Deutsch, gebundenes Buch, neu.
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Erscheinungsdatum: 03.12.2017, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques, Autor: Sayil, Selahattin, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Architektur // EDV // Rechnerarchitektur // Bauelement // elektronisch // Baustein // Elektronik // Bauelemente // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Maschinenbau // Mikroelektronik // Schaltung // Grundschaltung // Standardschaltung // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Circuits // General // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein // Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf // Mainframes und Minicomputer, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 93, Abbildungen: 25 schwarz-weiße Abbildungen, Bibliographie, Herkunft: GROSSBRITANNIEN (GB), Informationen: Book, Gewicht: 322 gr, Verkäufer: averdo.
Erscheinungsdatum: 03.12.2017, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques, Autor: Sayil, Selahattin, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Architektur // EDV // Rechnerarchitektur // Bauelement // elektronisch // Baustein // Elektronik // Bauelemente // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Maschinenbau // Mikroelektronik // Schaltung // Grundschaltung // Standardschaltung // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Circuits // General // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein // Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf // Mainframes und Minicomputer, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 93, Abbildungen: 25 schwarz-weiße Abbildungen, Bibliographie, Herkunft: GROSSBRITANNIEN (GB), Informationen: Book, Gewicht: 322 gr, Verkäufer: averdo.
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Gebr. - Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (2018)
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EN HC NW FEISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Englisch, 79 Seiten, Springer, gebundenes Buch, neu, Erstausgabe.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
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| Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques | Springer GmbH | 2017
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