Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
3 Angebote vergleichen
Bester Preis: € 74,09 (vom 01.04.2022)1
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
EN NW EB DL
ISBN: 9783527833948 bzw. 3527833943, in Englisch, Wiley-VCH, Weinheim, Deutschland, neu, E-Book, elektronischer Download.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, Lagernd, zzgl. Versandkosten.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
2
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
EN NW EB DL
ISBN: 9783527833948 bzw. 3527833943, in Englisch, Wiley-VCH, Weinheim, Deutschland, neu, E-Book, elektronischer Download.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, Lagernd, zzgl. Versandkosten.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
3
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
~EN NW EB
ISBN: 9783527833948 bzw. 3527833943, vermutlich in Englisch, Wiley-VCH GmbH, neu, E-Book.
Lieferung aus: Deutschland, Sofort per Download lieferbar.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Lade…