Meß- und Prüftechnik (Halbleiter-Elektronik) (German Edition)
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Mess- Und Pruftechnik
DE PB NWISBN: 9783540158783 bzw. 3540158782, in Deutsch, Springer, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, BuySomeBooks [52360437], Las Vegas, NV, U.S.A.
Paperback. 392 pages. Dimensions: 9.0in. x 6.0in. x 0.9in.Die MeB- und PrUftechnik fUr Halbleiterbauelemente umfaBt die Methoden zur Messung elektrischer Funktionen, deren verglei chende Auswertung und die verschiedenen normierten PrUfvor schriften. Damit unterstUtzt die MeB- und PrUftechnik zunachst die Bauelementeentwicklung, sichert bei der Produktfertigung Ausbeute, Qualitat und Zuverlassigkeit und erlaubt dem Anwen der die Auswahl und die Funktionskontrolle der Bauelemente nach standardisierten Verfahren. Dieses methodisch eigenstandige Gebiet der Halbleiterelektronik wird selbst bei den Bauelement-orientierten Darstellungen meist nur am Rande betrachtet, hat sich aber wegen der Besonderheiten der Halbleiterbauelemente und insbesondere der integrierten Schaltungen zu einem wissenschaftlich komplexen Problemkreis entwickelt, der daher hier in einem gesonderten Band behandelt werden soll. Der Umfang allein der normierten MeB- und Prlif vorschriften wUrde allerdings den Rahmen eines Bandes und ins besondere eines Lehrbuches weit libersteigen, zumal diese Ein zelvorschriften in nationalen und internationalen Regelungen festgelegt und dort nachzulesen sind. Vielmehr sollen, an Bei spielen erlautert, die Methoden und Verfahren zur Messung und PrUfung elektronischer Bauelemente grundlegend vermittelt wer den. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
Paperback. 392 pages. Dimensions: 9.0in. x 6.0in. x 0.9in.Die MeB- und PrUftechnik fUr Halbleiterbauelemente umfaBt die Methoden zur Messung elektrischer Funktionen, deren verglei chende Auswertung und die verschiedenen normierten PrUfvor schriften. Damit unterstUtzt die MeB- und PrUftechnik zunachst die Bauelementeentwicklung, sichert bei der Produktfertigung Ausbeute, Qualitat und Zuverlassigkeit und erlaubt dem Anwen der die Auswahl und die Funktionskontrolle der Bauelemente nach standardisierten Verfahren. Dieses methodisch eigenstandige Gebiet der Halbleiterelektronik wird selbst bei den Bauelement-orientierten Darstellungen meist nur am Rande betrachtet, hat sich aber wegen der Besonderheiten der Halbleiterbauelemente und insbesondere der integrierten Schaltungen zu einem wissenschaftlich komplexen Problemkreis entwickelt, der daher hier in einem gesonderten Band behandelt werden soll. Der Umfang allein der normierten MeB- und Prlif vorschriften wUrde allerdings den Rahmen eines Bandes und ins besondere eines Lehrbuches weit libersteigen, zumal diese Ein zelvorschriften in nationalen und internationalen Regelungen festgelegt und dort nachzulesen sind. Vielmehr sollen, an Bei spielen erlautert, die Methoden und Verfahren zur Messung und PrUfung elektronischer Bauelemente grundlegend vermittelt wer den. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
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Halbleiter-Elektronik ; Bd. 20 Mess- und Prüftechnik. (1986)
DEISBN: 3540158782 bzw. 9783540158783, Band: 20, in Deutsch, Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo : Springer.
Lieferung aus: Deutschland, zzgl. Versandkosten.
385 S. : 154 Ill. u. graph. Darst. ; 24 cm kart. ISBN: 3540158782. Zustand: Gut bis Sehr Gut min. gebräunt (Innen); Bibliothek***.; Besitzerstempel (Innen); Einband Außen hat geringe bis leichte Gebrauchsspuren; [Integrierte Schaltung ; Messung 31.9bIntegrierte Schaltung ; Prüfung 31.9bHalbleiterbauelement ; Messung 31.9bHalbleiterbauelement ; Prüfung 31.9bOptoelektronisches Bauelement ; Messung 31.9b].
385 S. : 154 Ill. u. graph. Darst. ; 24 cm kart. ISBN: 3540158782. Zustand: Gut bis Sehr Gut min. gebräunt (Innen); Bibliothek***.; Besitzerstempel (Innen); Einband Außen hat geringe bis leichte Gebrauchsspuren; [Integrierte Schaltung ; Messung 31.9bIntegrierte Schaltung ; Prüfung 31.9bHalbleiterbauelement ; Messung 31.9bHalbleiterbauelement ; Prüfung 31.9bOptoelektronisches Bauelement ; Messung 31.9b].
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Meß- und Prüftechnik (Halbleiter-Elektronik) (1986)
DE PB US FEISBN: 9783540158783 bzw. 3540158782, in Deutsch, 392 Seiten, Springer-Verlag, Taschenbuch, gebraucht, Erstausgabe.
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Meß- und Prüftechnik (Halbleiter-Elektronik) (1986)
DE PB NW FEISBN: 9783540158783 bzw. 3540158782, in Deutsch, 392 Seiten, Springer-Verlag, Taschenbuch, neu, Erstausgabe.
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Meß- und Prüftechnik (Halbleiter-Elektronik) (1986)
DE PB US FEISBN: 9783540158783 bzw. 3540158782, in Deutsch, 392 Seiten, Springer-Verlag, Taschenbuch, gebraucht, Erstausgabe.
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Meß- und Prüftechnik (1985)
DE PB NW FEISBN: 9783540158783 bzw. 3540158782, in Deutsch, 390 Seiten, Springer Berlin, Taschenbuch, neu, Erstausgabe.
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1985, Taschenbuch, Neuware, 660g, 1/1986. 390.
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1985, Taschenbuch, Neuware, 660g, 1/1986. 390.
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