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100%: Xiao Liu;Qiang Xu: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits als eBook von (ISBN: 9783319005331) 2013, Springer International Publishing, in Deutsch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
63%: Liu, Xiao; Xu, Qiang: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits. (ISBN: 9783319005324) in Englisch, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits als eBook von
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| Preise | 2014 | 2015 | 2016 | 2018 |
|---|---|---|---|---|
| Schnitt | € 103,52 | € 118,99 | € 111,39 | € 111,29 |
| Nachfrage |
Trace-based Post-silicon Validation for VLSI Circuits (2013)
DE HC NWISBN: 9783319005324 bzw. 3319005324, in Deutsch, gebundenes Buch, neu.
This brand new copy of Trace-based Post-silicon Validation for VLSI Circuits by Qiang Xu should be with you within 6 or 7 working days for UK deliveries. International delivery varies by country. Simple no nonsense service from Wordery.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits. (2014)
~EN HC USISBN: 9783319005324 bzw. 3319005324, vermutlich in Englisch, Cham, Springer International Publishing. gebundenes Buch, gebraucht, guter Zustand.
XV, 108 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Lecture Notes in Electrical Engineering ; 252. Sprache: Englisch. Books.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (2013)
DE NWISBN: 9783319005331 bzw. 3319005332, in Deutsch, neu.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits ab 101.49 € als pdf eBook: Auflage 2013. Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik,.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering) (2013)
DE HC USISBN: 9783319005324 bzw. 3319005324, in Deutsch, Springer, gebundenes Buch, gebraucht.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (2013)
DE NW RPISBN: 9783319005324 bzw. 3319005324, in Deutsch, neu, Nachdruck.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits. (2014)
DE HCISBN: 9783319005324 bzw. 3319005324, in Deutsch, Cham, Springer International Publishing, 2014. gebundenes Buch.
Lecture Notes in Electrical Engineering ; 252. XV, 108 p. Hardcover. Stamped.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits als eBook von Xiao Liu, Qiang Xu, Xiao Liu, Qiang Xu (2013)
DE NWISBN: 9783319005331 bzw. 3319005332, in Deutsch, Springer International Publishing, neu.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits ab 101.49 EURO Auflage 2013.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
DE NWISBN: 9783319005331 bzw. 3319005332, in Deutsch, Springer-Verlag Gmbh, neu.
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
DE NW EB DLISBN: 9783319005331 bzw. 3319005332, in Deutsch, Springer International Publishing, neu, E-Book, elektronischer Download.
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