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100%: R.F. Egerton: | Physical Principles of Electron Microscopy | Springer | Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 | 2018 (ISBN: 9783319819860) 2016, in Deutsch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
69%: R.F. Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to Tem Sem and Aem (ISBN: 9780387258003) 2005, in Englisch, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
48%: R.F. Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy, An Introduction to TEM, SEM, and AEM (ISBN: 9783319398778) 2016, in Deutsch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
39%: Ray Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy (ISBN: 9780387260167) Springer, Deutschland, in Englisch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
| Physical Principles of Electron Microscopy | Springer | Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 | 2018
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to Tem Sem and Aem (2005)
~EN HC NWISBN: 0387258000 bzw. 9780387258003, vermutlich in Englisch, SPRINGER NATURE, gebundenes Buch, neu.
Physical Principles of Electron Microscopy
~EN HC NWISBN: 9780387258003 bzw. 0387258000, vermutlich in Englisch, Springer Shop, gebundenes Buch, neu.
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Physical Principles of Electron Microscopy
EN HC USISBN: 9780387258003 bzw. 0387258000, in Englisch, Springer, gebundenes Buch, gebraucht.
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Physical Principles of Electron Microscopy
EN NW EBISBN: 9780387258003 bzw. 0387258000, in Englisch, Springer US, neu, E-Book.
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Physical Principles of Electron Microscopy (2016)
DE PB NW RPISBN: 3319819860 bzw. 9783319819860, in Deutsch, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
| Physical Principles of Electron Microscopy | Springer | Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 | 2018
DE PB NWISBN: 9783319819860 bzw. 3319819860, in Deutsch, Springer, Taschenbuch, neu.
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
DE PB NWISBN: 9783319819860 bzw. 3319819860, in Deutsch, Springer International Publishing, Taschenbuch, neu.
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM R.F. Egerton Author
~EN HC NWISBN: 9780387258003 bzw. 0387258000, vermutlich in Englisch, Springer US, gebundenes Buch, neu.
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to Tem, Sem, and Aem
EN NWISBN: 9780387258003 bzw. 0387258000, in Englisch, Springer, Deutschland, neu.
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
~EN NWISBN: 9780387258003 bzw. 0387258000, vermutlich in Englisch, Springer, Germany, neu.
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