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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
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Bester Preis: € 6,94 (vom 09.02.2019)Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319696737 bzw. 3319696734, vermutlich in Englisch, Springer Shop, neu, E-Book, elektronischer Download.
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test. eBook.
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319696737 bzw. 3319696734, vermutlich in Englisch, neu, E-Book, elektronischer Download.
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques: This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test. Englisch, Ebook.
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Selahattin Sayil Author
ISBN: 9783319696737 bzw. 3319696734, vermutlich in Englisch, Springer International Publishing, neu, E-Book, elektronischer Download.
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (2017)
ISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Deutsch, gebundenes Buch, neu.
Erscheinungsdatum: 03.12.2017, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques, Autor: Sayil, Selahattin, Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Schlagworte: Architektur // EDV // Rechnerarchitektur // Bauelement // elektronisch // Baustein // Elektronik // Bauelemente // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Maschinenbau // Mikroelektronik // Schaltung // Grundschaltung // Standardschaltung // TECHNOLOGY & ENGINEERING // Electronics // Circuits // General // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein // Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf // Mainframes und Minicomputer, Rubrik: Elektronik // Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Seiten: 93, Abbildungen: 25 schwarz-weiße Abbildungen, Bibliographie, Herkunft: GROSSBRITANNIEN (GB), Informationen: Book, Gewicht: 322 gr, Verkäufer: averdo.
Gebr. - Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (2018)
ISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Deutsch, neu.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (2017)
ISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Englisch, 79 Seiten, Springer, gebundenes Buch, neu, Erstausgabe.
Von Händler/Antiquariat, Amazon.de.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Deutsch, Springer-Verlag Gmbh, gebundenes Buch, neu.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319888194 bzw. 3319888196, in Deutsch, Springer Shop, Taschenbuch, neu.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319696720 bzw. 3319696726, in Deutsch, Springer Shop, gebundenes Buch, neu.
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319696737 bzw. 3319696734, vermutlich in Englisch, Springer-Verlag GmbH, Taschenbuch, neu.