Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - 5 Angebote vergleichen
Preise | 2017 | 2018 | 2019 | 2021 |
---|---|---|---|---|
Schnitt | € 108,10 | € 170,12 | € 168,90 | € 185,13 |
Nachfrage |
1
Symbolbild
Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente (2019)
DE NW
ISBN: 9783527340217 bzw. 3527340211, in Deutsch, Wiley-VCH, neu.
Lieferung aus: Schweiz, Versandfertig innert 6 - 9 Werktagen.
Elektronische Bauelemente sind in fast allen technischen Produkten enthalten, von der Waschmaschine bis zum neuesten Smartphone. Die Zuverlässigkeit ist dabei ein wesentliches Qualitätsmerkmal dieser Produkte: sie wird vom Kunden gefordert und erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben. Damit ist die Zuverlässigkeitsanalyse der verwendeten elektronischen Bauelemente ein integraler Bestandteil der Qualitätsuntersuchung und -sicherung auf allen Stufen des Produktentwicklungsprozesses. Das Buch behandelt die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - sowohl der passiven wie der aktiven - beginnend mit den klassischen diskreten Bauelementen, zum Beispiel Widerstände und Kondensatoren, bis hin zu modernen hochintegrierten Schaltungen, etwa Halbleiter-Speichermodule, optoelektronische Komponenten und Mikroprozessoren. Darüber hinaus werden Wandler-Module und modernste MEMS- und NEMS-Bauteile behandelt. Der Schwerpunkt liegt dabei auf den praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. gebundene Ausgabe, 13.03.2019.
Elektronische Bauelemente sind in fast allen technischen Produkten enthalten, von der Waschmaschine bis zum neuesten Smartphone. Die Zuverlässigkeit ist dabei ein wesentliches Qualitätsmerkmal dieser Produkte: sie wird vom Kunden gefordert und erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben. Damit ist die Zuverlässigkeitsanalyse der verwendeten elektronischen Bauelemente ein integraler Bestandteil der Qualitätsuntersuchung und -sicherung auf allen Stufen des Produktentwicklungsprozesses. Das Buch behandelt die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - sowohl der passiven wie der aktiven - beginnend mit den klassischen diskreten Bauelementen, zum Beispiel Widerstände und Kondensatoren, bis hin zu modernen hochintegrierten Schaltungen, etwa Halbleiter-Speichermodule, optoelektronische Komponenten und Mikroprozessoren. Darüber hinaus werden Wandler-Module und modernste MEMS- und NEMS-Bauteile behandelt. Der Schwerpunkt liegt dabei auf den praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. gebundene Ausgabe, 13.03.2019.
2
Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente
DE HC NW
ISBN: 9783527340217 bzw. 3527340211, in Deutsch, Wiley-Vch Verlag GmbH, gebundenes Buch, neu.
Lieferung aus: Schweiz, Neuerscheinung.
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis und Qualitätsüberwachung, Elektronische Bauelemente sind in fast allen technischen Produkten enthalten, von der Waschmaschine bis zum neuesten Smartphone. Die Zuverlässigkeit ist dabei ein wesentliches Qualitätsmerkmal dieser Produkte: sie wird vom Kunden gefordert und erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben. Damit ist die Zuverlässigkeitsanalyse der verwendeten elektronischen Bauelemente ein integraler Bestandteil der Qualitätsuntersuchung und -sicherung auf allen Stufen des Produktentwicklungsprozesses. Das Buch behandelt die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - sowohl der passiven wie der aktiven - beginnend mit den klassischen diskreten Bauelementen, zum Beispiel Widerstände und Kondensatoren, bis hin zu modernen hochintegrierten Schaltungen, etwa Halbleiter-Speichermodule, optoelektronische Komponenten und Mikroprozessoren. Darüber hinaus werden Wandler-Module und modernste MEMS- und NEMS-Bauteile behandelt. Der Schwerpunkt liegt dabei auf den praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. gebundene Ausgabe, 13.03.2019.
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis und Qualitätsüberwachung, Elektronische Bauelemente sind in fast allen technischen Produkten enthalten, von der Waschmaschine bis zum neuesten Smartphone. Die Zuverlässigkeit ist dabei ein wesentliches Qualitätsmerkmal dieser Produkte: sie wird vom Kunden gefordert und erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben. Damit ist die Zuverlässigkeitsanalyse der verwendeten elektronischen Bauelemente ein integraler Bestandteil der Qualitätsuntersuchung und -sicherung auf allen Stufen des Produktentwicklungsprozesses. Das Buch behandelt die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - sowohl der passiven wie der aktiven - beginnend mit den klassischen diskreten Bauelementen, zum Beispiel Widerstände und Kondensatoren, bis hin zu modernen hochintegrierten Schaltungen, etwa Halbleiter-Speichermodule, optoelektronische Komponenten und Mikroprozessoren. Darüber hinaus werden Wandler-Module und modernste MEMS- und NEMS-Bauteile behandelt. Der Schwerpunkt liegt dabei auf den praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. gebundene Ausgabe, 13.03.2019.
3
Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente (2019)
DE HC NW
ISBN: 9783527340217 bzw. 3527340211, in Deutsch, Wiley-VCH, gebundenes Buch, neu.
Lieferung aus: Österreich, zzgl. Versandkosten.
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis und Qualitätsüberwachung Elektronische Bauelemente sind in fast allen technischen Produkten enthalten, von der Waschmaschine bis zum neuesten Smartphone. Die Zuverlässigkeit ist dabei ein wesentliches Qualitätsmerkmal dieser Produkte: sie wird vom Kunden gefordert und erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben. Damit ist die Zuverlässigkeitsanalyse der verwendeten elektronischen Bauelemente ein integraler Bestandteil der Qualitätsuntersuchung und -sicherung auf allen Stufen des Produktentwicklungsprozesses. Das Buch behandelt die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - sowohl der passiven wie der aktiven - beginnend mit den klassischen diskreten Bauelementen, zum Beispiel Widerstände und Kondensatoren, bis hin zu modernen hochintegrierten Schaltungen, etwa Halbleiter-Speichermodule, optoelektronische Komponenten und Mikroprozessoren. Darüber hinaus werden Wandler-Module und modernste MEMS- und NEMS-Bauteile behandelt. Der Schwerpunkt liegt dabei auf den praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. 13.03.2019, gebundene Ausgabe.
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis und Qualitätsüberwachung Elektronische Bauelemente sind in fast allen technischen Produkten enthalten, von der Waschmaschine bis zum neuesten Smartphone. Die Zuverlässigkeit ist dabei ein wesentliches Qualitätsmerkmal dieser Produkte: sie wird vom Kunden gefordert und erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben. Damit ist die Zuverlässigkeitsanalyse der verwendeten elektronischen Bauelemente ein integraler Bestandteil der Qualitätsuntersuchung und -sicherung auf allen Stufen des Produktentwicklungsprozesses. Das Buch behandelt die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente - sowohl der passiven wie der aktiven - beginnend mit den klassischen diskreten Bauelementen, zum Beispiel Widerstände und Kondensatoren, bis hin zu modernen hochintegrierten Schaltungen, etwa Halbleiter-Speichermodule, optoelektronische Komponenten und Mikroprozessoren. Darüber hinaus werden Wandler-Module und modernste MEMS- und NEMS-Bauteile behandelt. Der Schwerpunkt liegt dabei auf den praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. 13.03.2019, gebundene Ausgabe.
4
Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis und Qualitätsüberwachung (2017)
DE HC NW
ISBN: 9783527340217 bzw. 3527340211, in Deutsch, 600 Seiten, Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, gebundenes Buch, neu.
Lieferung aus: Deutschland, Noch nicht erschienen. Versandkostenfrei.
Von Händler/Antiquariat, Amazon.de.
Gebundene Ausgabe, Label: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2017-08-02, Studio: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA.
Von Händler/Antiquariat, Amazon.de.
Gebundene Ausgabe, Label: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2017-08-02, Studio: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA.
5
Zuverlassige Bauelemente fur Elektronische Systeme
DE HC NW
ISBN: 9783527340217 bzw. 3527340211, in Deutsch, Wiley-VCH Verlag GmbH, gebundenes Buch, neu.
Lieferung aus: Vereinigtes Königreich Großbritannien und Nordirland, in-stock.
Zuverlassige Bauelemente fur Elektronische Systeme: Hardback: Wiley-VCH Verlag GmbH: 9783527340217: 02 Aug 2017.
Zuverlassige Bauelemente fur Elektronische Systeme: Hardback: Wiley-VCH Verlag GmbH: 9783527340217: 02 Aug 2017.
Lade…