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100%: Dror Sarid: Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (ISBN: 9783527610068) 2007, Wiley-VCH, 2. Ausgabe, in Englisch.
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![Exploring Scanning Probe Microscopy with Mathematica [With CDROM] (Hardcover)](/c-9783527406173-0.jpg){kind=small}
100%: Sarid, Dror: Exploring Scanning Probe Microscopy with Mathematica [With CDROM] (Hardcover) (ISBN: 9783527406173) 2006, 2. Ausgabe, in Deutsch, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
71%: Dror Sarid: Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (ISBN: 9783527609871) 2007, in Deutsch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA
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Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (2007)
EN NWISBN: 9783527610068 bzw. 3527610065, in Englisch, 310 Seiten, 2. Ausgabe, Wiley-VCH, neu.
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This new and completely updated edition features not only an accompanying CD-ROM, but also a new applications section, reflecting the many breakthroughs in the field over the last few years. It provides a complete set of computational models that describe the physical phenomena associated with scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and related technologies. The result is both a solid professional reference and an advanced-level text, beginning with the basics and moving on to the latest techniques, experiments, and theory. In the section devoted to atomic force microscopy, the author describes the mechanical properties of cantilevers, atomic force microscope tip-sample interactions, and cantilever vibration characteristics. This is followed by an in-depth treatment of theoretical and practical aspects of tunneling phenomena, including metal-insulator-metal tunneling and Fowler-Nordheim field emission. The final section features applications, dealing with, among others, Kelvin and Raman probe microscopy. The self-contained presentation spares researchers valuable time spent hunting through the technical literature for the theoretical results required to understand the models presented. The Mathematica code for all the examples is included in the CD-ROM, affording the freedom to change the values and parameters of specific problems as desired, or even modify the programs themselves to suit various modeling needs. Printed Access Code, Ausgabe: 2nd, Revised and Enlarged Edition, Label: Wiley-VCH, Wiley-VCH, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2007-02-16, Studio: Wiley-VCH.
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This new and completely updated edition features not only an accompanying CD-ROM, but also a new applications section, reflecting the many breakthroughs in the field over the last few years. It provides a complete set of computational models that describe the physical phenomena associated with scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and related technologies. The result is both a solid professional reference and an advanced-level text, beginning with the basics and moving on to the latest techniques, experiments, and theory. In the section devoted to atomic force microscopy, the author describes the mechanical properties of cantilevers, atomic force microscope tip-sample interactions, and cantilever vibration characteristics. This is followed by an in-depth treatment of theoretical and practical aspects of tunneling phenomena, including metal-insulator-metal tunneling and Fowler-Nordheim field emission. The final section features applications, dealing with, among others, Kelvin and Raman probe microscopy. The self-contained presentation spares researchers valuable time spent hunting through the technical literature for the theoretical results required to understand the models presented. The Mathematica code for all the examples is included in the CD-ROM, affording the freedom to change the values and parameters of specific problems as desired, or even modify the programs themselves to suit various modeling needs. Printed Access Code, Ausgabe: 2nd, Revised and Enlarged Edition, Label: Wiley-VCH, Wiley-VCH, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2007-02-16, Studio: Wiley-VCH.
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Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA
DE PB NWISBN: 9783527609871 bzw. 3527609873, in Deutsch, Wiley-VCH, Taschenbuch, neu.
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4
Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (2007)
DE NW EBISBN: 9783527609871 bzw. 3527609873, in Deutsch, Wiley Vch, neu, E-Book.
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Symbolbild
Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (2007)
DE NW EBISBN: 9783527609871 bzw. 3527609873, in Deutsch, Wiley-VCH, neu, E-Book.
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Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA
DE NWISBN: 9783527609871 bzw. 3527609873, in Deutsch, Wiley-VCH, neu.
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Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA
DE NW EBISBN: 9783527406173 bzw. 3527406174, in Deutsch, Wiley, neu, E-Book.
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8
Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (eBook, PDF)
DE NWISBN: 9783527609871 bzw. 3527609873, in Deutsch, Wiley-VCH, Weinheim, Deutschland, neu.
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9
![9783527406173 - Sarid, Dror: Exploring Scanning Probe Microscopy with Mathematica [With CDROM]](/c-9783527406173-3.jpg "9783527406173 - Sarid, Dror: Exploring Scanning Probe Microscopy with Mathematica [With CDROM]")
Exploring Scanning Probe Microscopy with Mathematica [With CDROM]
DEISBN: 9783527406173 bzw. 3527406174, in Deutsch, Wiley-VCH Verlag GmbH.
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Exploring Scanning Probe Microscopy with Mathematica
DE HC NWISBN: 9783527406173 bzw. 3527406174, in Deutsch, Wiley-VCH Verlag GmbH, gebundenes Buch, neu.
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