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100%: N. John DiNardo: Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces (ISBN: 9783527615940) 2008, in Deutsch, auch als eBook.
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100%: N. John DiNardo, N. J. DiNardo: Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces (ISBN: 9783527292479) 1994, in Deutsch, Broschiert.
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces (2008)
~DE NW EB
ISBN: 9783527615940 bzw. 3527615946, vermutlich in Deutsch, Wiley-VCH, neu, E-Book.
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Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen. Behandelt werden unter anderem: Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren * Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich * Nanotribologie * Manipulationen im Nanometerbereich Das Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie. PDF, 26.09.2008.
Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen. Behandelt werden unter anderem: Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren * Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich * Nanotribologie * Manipulationen im Nanometerbereich Das Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie. PDF, 26.09.2008.
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces (2008)
DE NW EB
ISBN: 9783527615940 bzw. 3527615946, in Deutsch, Wiley-Vch Verlag GmbH, neu, E-Book.
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen.Behandelt werden unter anderem:Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich* Nanotribologie * Manipulationen im NanometerbereichDas Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie. 26.09.2008, PDF.
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen.Behandelt werden unter anderem:Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich* Nanotribologie * Manipulationen im NanometerbereichDas Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie. 26.09.2008, PDF.
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces (2008)
DE NW EB
ISBN: 9783527615940 bzw. 3527615946, in Deutsch, Wiley-Vch Verlag GmbH, neu, E-Book.
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces, Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen.Behandelt werden unter anderem:Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich* Nanotribologie * Manipulationen im NanometerbereichDas Werk richtet sich gleichermassen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie. PDF, 26.09.2008.
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces, Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen.Behandelt werden unter anderem:Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich* Nanotribologie * Manipulationen im NanometerbereichDas Werk richtet sich gleichermassen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie. PDF, 26.09.2008.
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Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces
DE NW
ISBN: 9783527615940 bzw. 3527615946, in Deutsch, Wiley-VCH, Weinheim, Deutschland, neu.
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5
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces
DE NW EB DL
ISBN: 9783527615940 bzw. 3527615946, in Deutsch, Wiley-VCH, neu, E-Book, elektronischer Download.
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6
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces
DE NW EB DL
ISBN: 9783527615940 bzw. 3527615946, in Deutsch, Wiley-VCH, neu, E-Book, elektronischer Download.
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