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In-situ Electron Microscopy100%: Wiley-VCH: In-situ Electron Microscopy (ISBN: 9783527652198) 2012, in Deutsch, Taschenbuch.
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In-situ Electron Microscopy100%: Dehm, Gerhard (Herausgeber); Howe, James M. (Herausgeber); Zweck, Josef (Herausgeber): In-situ Electron Microscopy (ISBN: 9783527319732) 2012, Erstausgabe, in Englisch, Broschiert.
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In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science (English Edition)100%: Herausgeber: Gerhard Dehm, Herausgeber: James M. Howe, Herausgeber: Josef Zweck: In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science (English Edition) (ISBN: 9783527652174) 2012, Wiley-VCH, Erstausgabe, in Englisch, auch als eBook.
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100%: Editor: Gerhard Dehm, Editor: James M. Howe, Editor: Josef Zweck: In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science (ISBN: 9783527652167) 2012, Wiley-VCH, Erstausgabe, in Englisch.
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In-situ Electron Microscopy100%: Gerhard Dehm: In-situ Electron Microscopy (ISBN: 9783527652181) 2012, in Deutsch, Taschenbuch.
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9783527652198 - Wiley-VCH: In-situ Electron Microscopy
Wiley-VCH

In-situ Electron Microscopy (2012)

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Applications in Physics, Chemistry and Materials Science Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomaßstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; außerdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung. 12.10.2012, PDF.
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9783527652198 - Wiley-VCH: In-situ Electron Microscopy
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In-situ Electron Microscopy (2012)

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Applications in Physics, Chemistry and Materials Science, Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomassstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; ausserdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung. PDF, 12.10.2012.
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9783527319732 - Gerhard Dehm: In-Situ Electron Microscopy (Hardcover)
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Gerhard Dehm

In-Situ Electron Microscopy (Hardcover) (2012)

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Hardcover. Adopting a didactical approach from fundamentals to actual experiments and applications, this handbook and ready reference covers real-time observations using modern scanning .Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability. 402 pages. 0.916.
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9783527652198 - In-situ Electron Microscopy

In-situ Electron Microscopy

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9783527652198 - In-situ Electron Microscopy

In-situ Electron Microscopy

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9783527319732 - Gerhard Dehm; James M. Howe; Josef Zweck: In-situ Electron Microscopy
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In-situ Electron Microscopy (2012)

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Applications in Physics, Chemistry and Materials Science, Buch, Hardcover, 1. Auflage.
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9783527652198 - Gerhard Dehm: In-situ Electron Microscopy - Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Gerhard Dehm

In-situ Electron Microscopy - Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

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Gerhard Dehm, James M. Howe, Josef Zweck

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9783527652198 - Karin Peschel: In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Karin Peschel

In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

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9783527652198 - Dehm, Gerhard; Howe, James M.; Zweck, Josef: In-situ Electron Microscopy (eBook, PDF)
Dehm, Gerhard; Howe, James M.; Zweck, Josef

In-situ Electron Microscopy (eBook, PDF)

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