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100%: Andrew T. S. Wee; Xinmao Yin; Chi Sin Tang: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials (ISBN: 9783527833955) Wiley-VCH GmbH, in Deutsch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: Andrew T. S. Wee; Xinmao Yin; Chi Sin Tang: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials (ISBN: 9783527349517) Wiley-VCH GmbH, Erstausgabe, in Englisch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: Andrew T. S. Wee; Xinmao Yin; Chi Sin Tang: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials (ISBN: 9783527833948) in Englisch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
DE NWISBN: 9783527833955 bzw. 3527833951, in Deutsch, Wiley-VCH GmbH, neu.
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien. Andrew T. S. Wee & Xinmao Yin & Chi Sin Tang, ebook.
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
~DE NW EBISBN: 9783527833955 bzw. 3527833951, vermutlich in Deutsch, Wiley-VCH GmbH, neu, E-Book.
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien. ePUB, 08.03.2022.
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
~EN PB NWISBN: 9783527349517 bzw. 3527349510, vermutlich in Englisch, Wiley-VCH, Taschenbuch, neu.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
~EN PB NW FEISBN: 3527349510 bzw. 9783527349517, vermutlich in Englisch, Wiley-VCH GmbH, Taschenbuch, neu, Erstausgabe.
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
EN NW EB DLISBN: 9783527833948 bzw. 3527833943, in Englisch, Wiley-VCH, Weinheim, Deutschland, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
EN NW EB DLISBN: 9783527833948 bzw. 3527833943, in Englisch, Wiley-VCH, Weinheim, Deutschland, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
~EN NW EBISBN: 9783527833948 bzw. 3527833943, vermutlich in Englisch, Wiley-VCH GmbH, neu, E-Book.
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