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100%: R. Wagner: Field-Ion Microscopy (Crystals, Band 6) (ISBN: 9783540117124) 1982, Springer, 01.09.1982., Erstausgabe, in Deutsch, Band: 6, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: Wagner, R.: Field Ion Microscopy (Crystals-Growth, Properties, and Applications) (ISBN: 9780387117126) 1982, Erstausgabe, in Englisch, Band: 6, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Field-Ion Microscopy (Crystals, Band 6) - 11 Angebote vergleichen
| Preise | 2013 | 2014 | 2015 | 2019 |
|---|---|---|---|---|
| Schnitt | € 82,80 | € 85,00 | € 85,00 | € 196,90 |
| Nachfrage |
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Field Ion Microscopy (Crystals-Growth, Properties, and Applications) (1982)
EN HC USISBN: 9780387117126 bzw. 0387117121, in Englisch, 115 Seiten, Springer-Verlag, gebundenes Buch, gebraucht.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, Usually ships in 1-2 business days.
Von Händler/Antiquariat, _nearfine_.
Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal. Fifteen years after Milller!) invented the FIM he was also the first to combine the FIM with a time-of-flight (ToF) mass spectrometer - the so-called Atom-Probe FlM - to identify the chemical nature of single atoms imaged in the FIM2). Originally the motivation to develop the ToF atom probe was to use this method to obtain some more fundamental understanding of field ionization and field evaporation, the most basic physical processes in field-ion microscopy. Even after the successful combination of a FIM with a ToF atom probe had been accomplished, the technique was rarely applied to metallurgical investigations since for a fairly long period only refractory metals such as tungsten, molybdenum, iridium, etc. could be imaged in the FIM. How ever, these metals do not playa very important role in metallurgy. Only when Turner et 3 al. ) substituted the conventional phosphorescent screen of the field-ion microscope with micro-channel electron multiplier arrays, termed micro channel plates, did it become possible to image in the FIM the less refractory metals like Fe, Cu, Ni and even AI. Hardcover, Label: Springer-Verlag, Springer-Verlag, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1982-07, Studio: Springer-Verlag, Verkaufsrang: 8680508.
Von Händler/Antiquariat, _nearfine_.
Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal. Fifteen years after Milller!) invented the FIM he was also the first to combine the FIM with a time-of-flight (ToF) mass spectrometer - the so-called Atom-Probe FlM - to identify the chemical nature of single atoms imaged in the FIM2). Originally the motivation to develop the ToF atom probe was to use this method to obtain some more fundamental understanding of field ionization and field evaporation, the most basic physical processes in field-ion microscopy. Even after the successful combination of a FIM with a ToF atom probe had been accomplished, the technique was rarely applied to metallurgical investigations since for a fairly long period only refractory metals such as tungsten, molybdenum, iridium, etc. could be imaged in the FIM. How ever, these metals do not playa very important role in metallurgy. Only when Turner et 3 al. ) substituted the conventional phosphorescent screen of the field-ion microscope with micro-channel electron multiplier arrays, termed micro channel plates, did it become possible to image in the FIM the less refractory metals like Fe, Cu, Ni and even AI. Hardcover, Label: Springer-Verlag, Springer-Verlag, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1982-07, Studio: Springer-Verlag, Verkaufsrang: 8680508.
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Symbolbild
Field-Ion Microscopy (1982)
EN HC FEISBN: 9780387117126 bzw. 0387117121, Band: 6, in Englisch, Springer-Verlag New York, Incorporated, New York, NY, U.S.A. gebundenes Buch, Erstausgabe.
Von Händler/Antiquariat, A & I PEDERSEN [660873], Macclesfield, CHS, United Kingdom.
Volume 6 in the series Crystals - Growth, Properties, and Applications. Hard covers. Mild ex institutional library. Clean and tight, a very good copy. pp 117. Size: 17x25cm.
Volume 6 in the series Crystals - Growth, Properties, and Applications. Hard covers. Mild ex institutional library. Clean and tight, a very good copy. pp 117. Size: 17x25cm.
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Symbolbild
Field-Ion Microscopy in Materials Science (Crystals Nr. 6) (1982)
DE USISBN: 9783540117124 bzw. 3540117121, in Deutsch, Springer, gebraucht.
Lieferung aus: Deutschland, Versandkosten nach: Deutschland, Versandkostenfrei.
Von Händler/Antiquariat, Mosakowski GbR, [3737242].
Gebundene Ausgabe aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sofort verfügbar / daily shipping worldwide with invoice /, 01.09.1982. gebraucht sehr gut, 550g, Internationaler Versand, PayPal, Banküberweisung.
Von Händler/Antiquariat, Mosakowski GbR, [3737242].
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Field-Ion Microscopy in Materials Science (Crystals Nr. 6) (1982)
~EN USISBN: 9783540117124 bzw. 3540117121, vermutlich in Englisch, Springer, 01.09.1982. gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Mosakowski GbR [51070922], Florstadt, Germany.
aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550, Books.
aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550, Books.
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Symbolbild
Field-Ion Microscopy in Materials Science (Crystals Nr. 6) (1982)
DE USISBN: 9783540117124 bzw. 3540117121, in Deutsch, Springer, 01.09.1982. gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Mosakowski & Stiasny GbR [51070922], Florstadt, D, Germany.
aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: en Gewicht in Gramm: 550.
aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: en Gewicht in Gramm: 550.
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Symbolbild
Field-Ion Microscopy in Materials Science (Crystals Nr. 6) (1982)
DE USISBN: 9783540117124 bzw. 3540117121, in Deutsch, Springer, 01.09.1982. gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Mosakowski & Stiasny GbR [51070922], Florstadt, Germany.
aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: en Gewicht in Gramm: 550.
aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: en Gewicht in Gramm: 550.
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Symbolbild
Field-Ion Microscopy (Crystals) (1982)
EN HC US FEISBN: 9783540117124 bzw. 3540117121, in Englisch, Springer, gebundenes Buch, gebraucht, Erstausgabe.
Lieferung aus: Deutschland, Versandfertig in 1 - 2 Werktagen.
Von Händler/Antiquariat, colibris-usa.
Gebundene Ausgabe, Ausgabe: 1, Label: Springer, Springer, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1982-09-01, Studio: Springer.
Von Händler/Antiquariat, colibris-usa.
Gebundene Ausgabe, Ausgabe: 1, Label: Springer, Springer, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1982-09-01, Studio: Springer.
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Field-Ion Microscopy in Materials Science
EN HC NWISBN: 9780387117126 bzw. 0387117121, in Englisch, Springer-Verlag New York, LLC, gebundenes Buch, neu.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, Lagernd.
Field-Ion-Microscopy-in-Materials-Science~~R-Wagner, Field-Ion Microscopy in Materials Science, Hardcover.
Field-Ion-Microscopy-in-Materials-Science~~R-Wagner, Field-Ion Microscopy in Materials Science, Hardcover.
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Field-Ion Microscopy (Crystals, Band 6) (1982)
EN HC USISBN: 9783540117124 bzw. 3540117121, Band: 6, in Englisch, 118 Seiten, Springer, gebundenes Buch, gebraucht.
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Von Händler/Antiquariat, fachbuecher-weltversand.
Gebundene Ausgabe, Label: Springer, Springer, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1982-09-01, Studio: Springer.
Von Händler/Antiquariat, fachbuecher-weltversand.
Gebundene Ausgabe, Label: Springer, Springer, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1982-09-01, Studio: Springer.
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