Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Fachberichte)
8 Angebote vergleichen

Preise201720182019
Schnitt 65,00 65,00 64,77
Nachfrage
Bester Preis: 61,31 (vom 27.03.2019)
1
9783800744442 - Herausgeber: ITG, Herausgeber: GMM, Herausgeber: GI: Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Fachberichte)
Herausgeber: ITG, Herausgeber: GMM, Herausgeber: GI

Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Fachberichte) (2017)

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland EN US

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Englisch, 114 Seiten, VDE VERLAG, gebraucht.

Lieferung aus: Deutschland, Versandfertig in 1 - 2 Werktagen, Versandkostenfrei. Tatsächliche Versandkosten können abweichen.
Von Händler/Antiquariat, Buchwelt-Online.
9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus CD-ROM Die Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (ZuE) hat sich seit ihrer Gründung durch Sebastian Sattler und Hans-Joachim Wunderlich zu dem neben der Arbeitstagung "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ) wichtigsten Forum auf diesem Gebiet in Deutschland entwickelt. Nach den Tagungen in Dresden (2013) und in Siegen (2015) wird die Tagung in diesem Jahr im "Fernen Osten" Deutschlands durchgeführt, und zwar in leicht verteilter Form in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Organisatoren sind das Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) und die Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg, wobei Mario Schölzel und Milos Krstic, über ihre Rolle als Leiter des Programmkomitees, auch die Verbindung zur Universität Potsdam herstellen. Komplexe Systeme der Steuerung, Regelung und der Kommunikation werden heute in ihrer Funktion weitgehend durch Software bestimmt, aber diese benötigt wiederum sichere und zuverlässige Hardware. Die ZuE ist als "Hardware"-Konferenz entstanden, öffnet sich aber in steigendem Maße auch Themen, die mit der Sicherheit komplexer Systeme zu tun haben. In diesem Sinne soll der Tutorial-Tag im Vorlauf des eigentlichen Programms, veranstaltet beim IHP, einen besonderen Schwerpunkt bei der Sicherheit solcher Systeme gegenüber Seitenkanalangriffen setzen. Die eingereichten Beiträge behandeln Aspekte von Test, Zuverlässigkeit, Fehlertoleranz und Entwurfsvalidierung vornehmlich für Hardware, von Materialien bis zu komplexen verteilten Systemen, wobei die drahtlose Kommunikation eine wichtige Rolle spielt. Von 19 eingegangenen Beiträgen wurden 11 für die Präsentation in Vorträgen und 5 für Poster ausgewählt. Das Programm wird durch Keynote-Beiträge und eingeladene Vorträge ergänzt. Dass neben Beiträgen aus den Firmen IBM und GlobalFoundries auch die Philotech GmbH für eine aktive Rolle und als Sponsor gewonnen... CD-ROM, Ausgabe: Neuerscheinung, Label: VDE VERLAG, VDE VERLAG, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2017-09-20, Studio: VDE VERLAG.
2
9783800744442 - Herausgeber: ITG, Herausgeber: GMM, Herausgeber: GI: Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Fachberichte)
Herausgeber: ITG, Herausgeber: GMM, Herausgeber: GI

Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Fachberichte) (2017)

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland EN NW

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Englisch, 114 Seiten, VDE VERLAG, neu.

Lieferung aus: Deutschland, Gewöhnlich versandfertig in 24 Stunden, Versandkostenfrei. Tatsächliche Versandkosten können abweichen.
Von Händler/Antiquariat, averdo24.
9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus CD-ROM Die Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (ZuE) hat sich seit ihrer Gründung durch Sebastian Sattler und Hans-Joachim Wunderlich zu dem neben der Arbeitstagung "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ) wichtigsten Forum auf diesem Gebiet in Deutschland entwickelt. Nach den Tagungen in Dresden (2013) und in Siegen (2015) wird die Tagung in diesem Jahr im "Fernen Osten" Deutschlands durchgeführt, und zwar in leicht verteilter Form in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Organisatoren sind das Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) und die Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg, wobei Mario Schölzel und Milos Krstic, über ihre Rolle als Leiter des Programmkomitees, auch die Verbindung zur Universität Potsdam herstellen. Komplexe Systeme der Steuerung, Regelung und der Kommunikation werden heute in ihrer Funktion weitgehend durch Software bestimmt, aber diese benötigt wiederum sichere und zuverlässige Hardware. Die ZuE ist als "Hardware"-Konferenz entstanden, öffnet sich aber in steigendem Maße auch Themen, die mit der Sicherheit komplexer Systeme zu tun haben. In diesem Sinne soll der Tutorial-Tag im Vorlauf des eigentlichen Programms, veranstaltet beim IHP, einen besonderen Schwerpunkt bei der Sicherheit solcher Systeme gegenüber Seitenkanalangriffen setzen. Die eingereichten Beiträge behandeln Aspekte von Test, Zuverlässigkeit, Fehlertoleranz und Entwurfsvalidierung vornehmlich für Hardware, von Materialien bis zu komplexen verteilten Systemen, wobei die drahtlose Kommunikation eine wichtige Rolle spielt. Von 19 eingegangenen Beiträgen wurden 11 für die Präsentation in Vorträgen und 5 für Poster ausgewählt. Das Programm wird durch Keynote-Beiträge und eingeladene Vorträge ergänzt. Dass neben Beiträgen aus den Firmen IBM und GlobalFoundries auch die Philotech GmbH für eine aktive Rolle und als Sponsor gewonnen... CD-ROM, Ausgabe: Neuerscheinung, Label: VDE VERLAG, VDE VERLAG, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2017-09-20, Studio: VDE VERLAG.
3
9783800744442 - ITG / VDE: Zuverlässigkeit und Entwurf, CD-ROM
ITG / VDE

Zuverlässigkeit und Entwurf, CD-ROM (2017)

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland DE NW

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Deutsch, VDE-Verlag, Berlin, Deutschland, neu.

Lieferung aus: Deutschland, Versandkostenfrei.
Von Händler/Antiquariat, European-Media-Service Mannheim [1048135], Mannheim, Germany.
Publisher/Verlag: VDE-Verlag | 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus | Die Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (ZuE) hat sich seit ihrer Gründung durch Sebastian Sattler und Hans-Joachim Wunderlich zu dem neben der Arbeitstagung "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ) wichtigsten Forum auf diesem Gebiet in Deutschland entwickelt. Nach den Tagungen in Dresden (2013) und in Siegen (2015) wird die Tagung in diesem Jahr im "Fernen Osten" Deutschlands durchgeführt, und zwar in leicht verteilter Form in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Organisatoren sind das Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) und die Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg, wobei Mario Schölzel und Milos Krstic, über ihre Rolle als Leiter des Programmkomitees, auch die Verbindung zur Universität Potsdam herstellen.Komplexe Systeme der Steuerung, Regelung und der Kommunikation werden heute in ihrer Funktion weitgehend durch Software bestimmt, aber diese benötigt wiederum sichere und zuverlässige Hardware. Die ZuE ist als "Hardware"-Konferenz entstanden, öffnet sich aber in steigendem Maße auch Themen, die mit der Sicherheit komplexer Systeme zu tun haben. In diesem Sinne soll der Tutorial-Tag im Vorlauf des eigentlichen Programms, veranstaltet beim IHP, einen besonderen Schwerpunkt bei der Sicherheit solcher Systeme gegenüber Seitenkanalangriffen setzen.Die eingereichten Beiträge behandeln Aspekte von Test, Zuverlässigkeit, Fehlertoleranz und Entwurfsvalidierung vornehmlich für Hardware, von Materialien bis zu komplexen verteilten Systemen, wobei die drahtlose Kommunikation eine wichtige Rolle spielt. Von 19 eingegangenen Beiträgen wurden 11 für die Präsentation in Vorträgen und 5 für Poster ausgewählt. Das Programm wird durch Keynote-Beiträge und eingeladene Vorträge ergänzt. Dass neben Beiträgen aus den Firmen IBM und GlobalFoundries auch die Philotech GmbH für eine aktive Rolle und als Sponsor gewonnen werden konnte, ein Software-Haus mit Schwerpunkt im Luftfahrt-Bereich, soll der Bedeutung der Software und deren Sicherheit Rechnung tragen.Wir wünschen allen Teilnehmerinnen und Teilnehmern interessante Diskussionen, neue Einsichten und einen angenehmen Aufenthalt in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Dass hier die Straßenschilder zweisprachig sind, sollte die Gäste neugierig auf die Kultur und Geschichte der Sorben und Wenden werden lassen. | Format: CD-ROM | Language/Sprache: english | 60 gr | 172x131x4 mm | 114 pp.
4
9783800744442 - ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf | VDE | Neuerscheinung | 2017

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf | VDE | Neuerscheinung | 2017

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland DE NW

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Deutsch, VDE, neu.

Die Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf' (ZuE) hat sich seit ihrer Gründung durch Sebastian Sattler und Hans-Joachim Wunderlich zu dem neben der Arbeitstagung Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ) wichtigsten Forum auf diesem Gebiet in Deutschland entwic kelt. Nach den Tagungen in Dresden (2013) und in Siegen (2015) wird die Tagung in diesem Jahr im Fernen Osten' Deutschlands durchgeführt, und zwar in leicht verteilter Form in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Organisatoren sind das Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) und die Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg, wobei Mario Schölzel und Milos Krstic, über ihre Rolle als Leiter des Programmkomitees, auch die Verbindung zur Universität Potsdam herstellen. Komplexe Systeme der Steuerung, Regelung und der Kommunikation werden heute in ihrer Funktion weitgehend durch Software bestimmt, aber diese benötigt wiederum sichere und zuverlässige Hardware. Die ZuE ist als Hardware'-Konferenz entstanden, öffnet sich aber in steigendem Maße auch Themen, die mit der Sicherheit komplexer Systeme zu tun haben. In diesem Sinne soll der Tutorial-Tag im Vorlauf des eigentlichen Programms, veranstaltet beim IHP, einen besonderen Schwerpunkt bei der Sicherheit solcher Systeme gegenüber Seitenkanalangriffen setzen. Die eingereichten Beiträge behandeln Aspekte von Test, Zuverlässigkeit, Fehlertoleranz und Entwurfsvalidierung vornehmlich für Hardware, von Materialien bis zu komplexen verteilten Systemen, wobei die drahtlose Kommunikation eine wichtige Rolle spielt. Von 19 eingegangenen Beiträgen wurden 11 für die Präsentation in Vorträgen und 5 für Poster ausgewählt. Das Programm wird durch Keynote-Beiträge und eingeladene Vorträge ergänzt. Dass neben Beiträgen aus den Firmen IBM und GlobalFoundries auch die Philotech GmbH für eine aktive Rolle und als Sponsor gewonnen werden konnte, ein Software-Haus mit Schwerpunkt im Luftfahrt-Bereich, soll der Bedeutung der Software und deren Sicherheit Rechnung tragen. Wir wünschen allen Teilnehmerinnen und Teilnehmern interessante Diskussionen, neue Einsichten und einen angenehmen Aufenthalt in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Dass hier die Straßenschilder zweisprachig sind, sollte die Gäste neugierig auf die Kultur und Geschichte der Sorben und Wenden werden lassen.
5
3800744449 - ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf (2017)

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland DE NW AB DL

ISBN: 3800744449 bzw. 9783800744442, in Deutsch, VDE-Verlag, Berlin, Deutschland, neu, Hörbuch, elektronischer Download.

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf ab 65 EURO 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18. -20. September 2017 in Cottbus ITG-Fachberichte. Neuerscheinung.
6
9783800744442 - ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus (ITG-Fachberichte)

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus (ITG-Fachberichte) (2017)

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland DE NW

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Deutsch, 114 Seiten, ITG, GMM, GI, VDE VERLAG, neu.

Lieferung aus: Deutschland, Auf Lager. Versandkostenfrei. Tatsächliche Versandkosten können abweichen.
Von Händler/Antiquariat, preigu.
VDE VERLAG, CD-ROM, Ausgabe: Neuerscheinung, Publiziert: 2017-09-20T00:00:01Z, Produktgruppe: Book.
7
9783800744442 - ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf

Lieferung erfolgt aus/von: Vereinigtes Königreich Großbritannien und Nordirland DE NW

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Deutsch, Vde Verlag GmbH, neu.

61,31 + Versand: 8,16 = 69,47
unverbindlich
Von Händler/Antiquariat, Blackwell's [8052444], Oxford, OX, United Kingdom.
8
9783800744442 - ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf

Lieferung erfolgt aus/von: Vereinigte Staaten von Amerika DE NW

ISBN: 9783800744442 bzw. 3800744449, in Deutsch, VDE-Verlag, Berlin, Deutschland, neu.

66,64 + Versand: 14,13 = 80,77
unverbindlich
Von Händler/Antiquariat, GreatBookPrices [5352716], Columbia, MD, U.S.A.
Lade…