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Beam injection assessment of microstructures in semiconductors (BIAMS ; proceedings. (Solid state [henomena; v.78-79)
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International Workshop on [title] (6th: 2000: Fukuoka, Japan) Ed. by Hajime Tomokage and Takashi Sekiguchi.

Beam injection assessment of microstructures in semiconductors (BIAMS ; proceedings. (Solid state [henomena; v.78-79) (2000)

Lieferung erfolgt aus/von: Vereinigte Staaten von Amerika DE PB

ISBN: 9783908450610 bzw. 3908450616, in Deutsch, Scitec Publications, Ltd. Taschenbuch.

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2
Hajime Tomokage And Takashi Sekiguchi

Beam injection assessment of microstructures in semiconductors (BIAMS 2000); proceedings (2000)

Lieferung erfolgt aus/von: Vereinigte Staaten von Amerika DE PB NW

ISBN: 9783908450610 bzw. 3908450616, in Deutsch, Scitec Publications, Ltd. 1, Taschenbuch, neu.

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3
Hajime Tomokage, Hajime Tomokage (Editor), Takashi Sekiguchi (Editor)

Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors: Biams 2000 (Solid State Phenomena) (2001)

Lieferung erfolgt aus/von: Vereinigte Staaten von Amerika DE PB NW

ISBN: 9783908450610 bzw. 3908450616, in Deutsch, Scitec Publications, Ltd. Taschenbuch, neu.

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