Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XII: Selected, Peer Reviewed Papers from Gettering and Defect Engineering in . Italy at the EMFCSC (Solid State Phenomena)
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12: Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XII: Selected, Peer Reviewed Papers from Gettering and Defect Engineering in . Italy at the EMFCSC (Solid State Phenomena) (2008)
EN PB USISBN: 9783908451433 bzw. 3908451434, in Englisch, 648 Seiten, Trans Tech, Taschenbuch, gebraucht.
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Taschenbuch, Label: Trans Tech, Trans Tech, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2008-01, Studio: Trans Tech.
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12: Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XII: Selected, Peer Reviewed Papers from Gettering and Defect Engineering in . Italy at the EMFCSC (Solid State Phenomena) (2008)
EN PB NWISBN: 9783908451433 bzw. 3908451434, in Englisch, 648 Seiten, Trans Tech, Taschenbuch, neu.
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Von Händler/Antiquariat, Wissenschaftliches Buch.
Taschenbuch, Label: Trans Tech, Trans Tech, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2008-01, Studio: Trans Tech.
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EN PB USISBN: 9783908451433 bzw. 3908451434, in Englisch, 648 Seiten, Cavallini, A, Richter, H, Kittler, M, Pizzini, S, Trans Tech, Taschenbuch, gebraucht.
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Trans Tech, Taschenbuch, Publiziert: 2008-01T, Produktgruppe: Book.
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/ Richter / Kittler / Pizzini | Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XII | Trans Tech Publications | 2008
DE NWISBN: 9783908451433 bzw. 3908451434, in Deutsch, Trans Tech Publications, neu.
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