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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings / SPIE-the International Society for Optical Engineering)
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Bester Preis: € 34,66 (vom 04.12.2016)In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
ISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, Society of Photo Optical, Taschenbuch.
Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks.
Society of Photo Optical, 1999-04-01. Paperback. Used:Good. Buy with confidence. Excellent Customer Service & Return policy. Ships Fast. 24*7 Customer Service.
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
ISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, Society of Photo Optical, Taschenbuch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
ISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch.
Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings / SPIE-the International Society for Optical Engineering) (2001)
ISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
illustrated edition. 252 pages. 10.60x8.30x0.60 inches. In Stock.
In-Line Characterization, Yield Reliability, Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (1999)
ISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engineering, gebundenes Buch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, 2011, CA, Danville, [RE:4].
Hard cover, New ed.
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
ISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, Society of Photo Optical, Taschenbuch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, ExtremelyReliable, TX, Richmond, [RE:4].
Paperback, New ed.
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
ISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, 344 Seiten, Society of Photo Optical, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Amazon.com.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
ISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, 252 Seiten, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Amazon.com.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
ISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, ExtremelyReliable, TX, Richmond, [RE:4].
Paperback.
In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
ISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.