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100%: Gudrun Kissinger (Editor), Larg H. Weiland (Editor): In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings / SPIE-the International Society for Optical Engineering) (ISBN: 9780819441072) 2001, SPIE-International Society for Optical Engine, in Englisch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
30%: Amberiadis, Kostas (Editor)/ Kissinger, Gudrun (Editor)/ Okumura, Katsuya (Editor)/ Pabbisetty, Seshu (Editor)/ Weiland, H. (Editor): In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (ISBN: 9780819432230) 1999, in Englisch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings / SPIE-the International Society for Optical Engineering)
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Kostas Amberiadis (Editor), Gudrun Kissinger (Editor), Katsuya Okumura (Editor), Seshu Pabbisetty (Editor), H. Weiland (Editor)
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
EN PBISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, Society of Photo Optical, Taschenbuch.
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Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks.
Society of Photo Optical, 1999-04-01. Paperback. Used:Good. Buy with confidence. Excellent Customer Service & Return policy. Ships Fast. 24*7 Customer Service.
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Society of Photo Optical, 1999-04-01. Paperback. Used:Good. Buy with confidence. Excellent Customer Service & Return policy. Ships Fast. 24*7 Customer Service.
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Editor-Kostas Amberiadis; Editor-Gudrun Kissinger; Editor-Katsuya Okumura; Editor-Seshu Pabbisetty; Editor-H. Weiland
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
EN PB USISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, Society of Photo Optical, Taschenbuch, gebraucht.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PBISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings / SPIE-the International Society for Optical Engineering) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Revaluation Books [2134736], Exeter, United Kingdom.
illustrated edition. 252 pages. 10.60x8.30x0.60 inches. In Stock.
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Amberiadis, Kostas, and European Optical Society, and Society Of Photo-Optical Instrumentation Engineers
In-Line Characterization, Yield Reliability, Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (1999)
EN HC USISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engineering, gebundenes Buch, gebraucht.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, zzgl. Versandkosten, Verandgebiet: DOM.
Von Händler/Antiquariat, 2011, CA, Danville, [RE:4].
Hard cover, New ed.
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Hard cover, New ed.
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Editor-Kostas Amberiadis; Editor-Gudrun Kissinger; Editor-Katsuya Okumura; Editor-Seshu Pabbisetty; Editor-H. Weiland
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
EN PB USISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, Society of Photo Optical, Taschenbuch, gebraucht.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, zzgl. Versandkosten, Verandgebiet: DOM.
Von Händler/Antiquariat, ExtremelyReliable, TX, Richmond, [RE:4].
Paperback, New ed.
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Editor: Kostas Amberiadis, Editor: Gudrun Kissinger, Editor: Katsuya Okumura, Editor: Seshu Pabbisetty, Editor: H. Weiland
In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing: 19-21 May, 1999, Edinburgh, Scotland (Proceedings Europt Series) (1999)
EN PB NWISBN: 9780819432230 bzw. 0819432237, in Englisch, 344 Seiten, Society of Photo Optical, Taschenbuch, neu.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, 252 Seiten, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, Usually ships in 24 hours.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, zzgl. Versandkosten, Verandgebiet: DOM.
Von Händler/Antiquariat, ExtremelyReliable, TX, Richmond, [RE:4].
Paperback.
Von Händler/Antiquariat, ExtremelyReliable, TX, Richmond, [RE:4].
Paperback.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks [8304062], RICHMOND, TX, U.S.A.
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