Informationsbedarf und Informationsgewohnheiten von Phytomedizinern in der Bundesrepublik Deutschland. Eine empirische Untersuchung zur Benutzung von Fachliteratur
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Informationsbedarf und Informationsgewohnheiten von Phytomedizinern in der Bundesrepublik Deutschland. Eine empirische Untersuchung zur Benutzung von Fachliteratur
DE USISBN: 9783489171003 bzw. 3489171004, in Deutsch, 1976. Ausgabe, Parey, Hamburg/Berlin, Deutschland, gebraucht.
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Von Privat, Suessik61, [3977625].
Anmerkungen: war ein Büchereibuch, mit Stempel und den üblichen Markierungen - sowie Gebrauchspuren - Buch von 1976 -, leichte Gebrauchsspuren, 388g, 1976.
Von Privat, Suessik61, [3977625].
Anmerkungen: war ein Büchereibuch, mit Stempel und den üblichen Markierungen - sowie Gebrauchspuren - Buch von 1976 -, leichte Gebrauchsspuren, 388g, 1976.
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Symbolbild
In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PBISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch.
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Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings / SPIE-the International Society for Optical Engineering) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Revaluation Books [2134736], Exeter, United Kingdom.
illustrated edition. 252 pages. 10.60x8.30x0.60 inches. In Stock.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, 252 Seiten, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
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Symbolbild
In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
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Von Händler/Antiquariat, ExtremelyReliable, TX, Richmond, [RE:4].
Paperback.
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In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing (Proceedings of Spie) (2001)
EN PB NWISBN: 9780819441072 bzw. 0819441074, in Englisch, SPIE-International Society for Optical Engine, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Ergodebooks [8304062], RICHMOND, TX, U.S.A.
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